一种Overhauser磁力仪磁测数据置信水平评价方法
授权
摘要
本发明提供一种Overhauser磁力仪磁测数据置信水平评价方法，包括建立不同类型噪声与FID信号特征间的映射关系，得到不同噪声对信号特征的影响，包括幅度变化、衰减速度等；以信号衰减快慢粗略表征信号质量高低，建立X评价体系；分析含噪信号的函数表达式，建立信号信噪比表达式，在此基础上建立Y评价体系；建立磁测误差表达式，分析不同条件下的磁测误差大小；在磁场波动变化和磁测误差变化的基础上建立Z评价体系；以X、Y、Z构成整体磁测数据置信水平评价方法，实现不同测量环境中磁测数据质量的实时准确评价，本评价方法不仅能够实现信号质量评价，且能够进一步实现磁测数据真实置信水平的评价。
基本信息
专利标题 ：
一种Overhauser磁力仪磁测数据置信水平评价方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113341359A
申请号 ：
CN202110549877.6
公开（公告）日 ：
2021-09-03
申请日 ：
2021-05-20
授权号 ：
CN113341359B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
董浩斌郑利东葛健刘欢罗望王洪鹏孟涛
申请人 ：
中国地质大学（武汉）
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
代理机构 ：
武汉知产时代知识产权代理有限公司
代理人 ：
孔灿
优先权 ：
CN202110549877.6
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00 G06K9/00 G06F17/15
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2021-09-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20210520
申请日 : 20210520
2021-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
