具有双采样结构的正余弦信号幅值计算电路
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摘要
本发明公开了一种具有双采样结构的正余弦信号幅值计算电路,包括采样单元、平方计算单元、求和计算单元。所述采样单元将输入的正余弦电压信号分别转换为正余弦电流信号,并通过采样消除运算放大器的输入失调。所述平方计算单元对正余弦电流信号分别进行平方运算后利用求和计算单元进行求和,最终输出与该信号幅值平方呈线性关系的电压信号。整个幅值计算过程中,各单元对同一及晶体管进行采样保持,消除器件的随机失配。本发明在提取正余弦信号幅值信息的前提下,解决了现有幅值计算电路中晶体管随机失配较大,运算放大器输入失调无法消除的问题。
基本信息
专利标题 :
具有双采样结构的正余弦信号幅值计算电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113310396A
申请号 :
CN202110553635.4
公开(公告)日 :
2021-08-27
申请日 :
2021-05-20
授权号 :
CN113310396B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
袁冰应晶袁昕查子健霍艳丽
申请人 :
西安电子科技大学
申请人地址 :
陕西省西安市太白南路2号
代理机构 :
陕西电子工业专利中心
代理人 :
田文英
优先权 :
CN202110553635.4
主分类号 :
G01B7/30
IPC分类号 :
G01B7/30
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/30
•用于计量角度或锥度;用于检测轴线准直
法律状态
2022-04-19 :
授权
2021-09-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/30
申请日 : 20210520
申请日 : 20210520
2021-08-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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