基于微波光子的光纤延时变化测量装置及测量方法
授权
摘要
本发明提供一种基于微波光子的光纤延时变化测量装置及测量方法，首先采用光频梳技术获得高频的光载微波信号，然后通过光载微波信号对待测光纤进行传输延时感知，利用微波光子技术将在待测光纤中感知后的光载微波信号与参考信号进行相位检测，因待测光纤的延时变化会引起光载微波信号的相位波动，故通过对光载微波信号的相位监控便可以实现光纤延时变化的测量。光纤延时变化即为光载微波信号的绝对相位差除以信号频率，而且感知信号的频率越高，测量的精度越高。本发明将光纤的延时测量由时域转到频域进行，相比商用计时器测量精度提升了数十倍。
基本信息
专利标题 ：
基于微波光子的光纤延时变化测量装置及测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113346946A
申请号 ：
CN202110588612.7
公开（公告）日 ：
2021-09-03
申请日 ：
2021-05-28
授权号 ：
CN113346946B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
王小成韩乔妮丁晓铭
申请人 ：
天津师范大学
申请人地址 ：
天津市西青区宾水西道393号天津师范大学
代理机构 ：
北京清控智云知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
管士涛
优先权 ：
CN202110588612.7
主分类号 ：
H04B10/077
IPC分类号 ：
H04B10/077 H04B10/079
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2021-09-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/077
申请日 : 20210528
申请日 : 20210528
2021-09-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
