一种用于符合多普勒展宽谱测量的指令系统及控制方法

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摘要

本发明涉及核电子学技术，具体涉及一种用于符合多普勒展宽谱测量的指令系统及控制方法，该系统包括可编程放大器、高速ADC、FPGA数字脉冲分析系统和上位机；FPGA数字脉冲分析系统包括指令集以及用于执行指令的控制器，与控制器连接的双通道滤波与幅度提取模块、千兆以太网发送模块、参数池、数据缓冲区、发送选择器、千兆以太网接收模块和指令校验模块。该系统的控制通过指令来指导控制器完成对整个FPGA数字脉冲分析系统的控制功能，替代了单片机，同时消除了通信速率的瓶颈，使得FPGA数字脉冲分析系统可以同时向上位机发送多种数据而不互相干扰。控制器也可以接收上位机的指令，对任何需要修改的参数进行实时灵活的调整。

基本信息

专利标题：

一种用于符合多普勒展宽谱测量的指令系统及控制方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113341227A

申请号：

CN202110597636.9

公开（公告）日：

2021-09-03

申请日：

2021-05-31

授权号：

CN113341227B

授权日：

2022-06-14

发明人：

董俊岐王柱

申请人：

武汉大学

申请人地址：

湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

代理机构：

武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

彭艳君

优先权：

CN202110597636.9

主分类号：

G01R23/167

IPC分类号：

G01R23/167