一种基于迭代加权L1范数的受损阵列天线方向图修复方法
授权
摘要
本发明公开了一种基于迭代加权L1范数的受损阵列天线方向图修复方法,包括如下步骤:S1、获得阵列天线的原始激励以及受损单元的位置和个数,将受损单元的激励置0;S2、计算出阵列天线的原始方向图以及部分单元受损后的实际方向图,设置修复目标参数,包括最大旁瓣电平和主瓣波束范围;S3、利用迭代加权L1范数优化算法,对剩余完好单元进行激励补偿迭代优化直至满足迭代结束条件,达到目标修复效果,得到修复后的阵列方向图函数。本发明方法可以应用于直线阵列与平面阵列的方向图修复,并且相比于传统的阵列修复算法,在修复效果、修复复杂度、修复时间上均有较强的优势,因此本方法在实际应用中有十分突出的工程应用价值。
基本信息
专利标题 :
一种基于迭代加权L1范数的受损阵列天线方向图修复方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113420431A
申请号 :
CN202110667801.3
公开(公告)日 :
2021-09-21
申请日 :
2021-06-16
授权号 :
CN113420431B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
廖成柏果程友峰彭樊
申请人 :
西南交通大学
申请人地址 :
四川省成都市二环路北一段111号
代理机构 :
成都东恒知盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
罗江
优先权 :
CN202110667801.3
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-04-05 :
授权
2021-10-12 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20210616
申请日 : 20210616
2021-09-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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