基于硅光电倍增管探测器的光共享探测系统及探测方法
授权
摘要

本发明提供了一种基于硅光电倍增管探测器的光共享探测系统及探测方法,涉及光电探测技术领域,包括仿真平台、前端电子学组件以及探测器,探测器包括:晶体组件,硅光电倍增管组件,导光组件,导光组件包括:光学胶,细丝,按照预设细丝分布的距离参数分布于光学胶上,且涂覆有反光涂层;仿真平台用于根据晶体组件和硅光电倍增管组件的阵列信息生成光学胶厚度、细丝尺寸、细丝分布的距离参数;采用前端电子学组件获取光子位置信息,并读取硅光电倍增管组件输出的电信号信息,其中,电信号信息包括电信号的时间信息和能量信息,用于解决现有探测器在晶体阵列和SiPM阵列之间放置外部导光片,影响探测效率和封装良品率的问题。

基本信息
专利标题 :
基于硅光电倍增管探测器的光共享探测系统及探测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113447975A
申请号 :
CN202110707666.0
公开(公告)日 :
2021-09-28
申请日 :
2021-06-24
授权号 :
CN113447975B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
吴国城叶宏伟余李黄振强
申请人 :
明峰医疗系统股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市经济技术开发区益丰路129号5幢1-2层
代理机构 :
上海雍灏知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
沈汶波
优先权 :
CN202110707666.0
主分类号 :
G01T1/24
IPC分类号 :
G01T1/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/24
用半导体探测器
法律状态
2022-05-24 :
授权
2021-10-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 1/24
申请日 : 20210624
2021-09-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN113447975A.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332