高摄像同步性和精细像移补偿的TDICMOS成像系统
授权
摘要
高摄像同步性和精细像移补偿的TDICMOS成像系统，涉及TDICMOS的动态行周期成像系统，解决现有技术存在电荷转移错误，出现异常图像的问题，本发明包括成像控制器和相机成像单元；相机成像单元包括驱动及电平转换电路、探测器、2711模块和成像FPGA；相机成像单元内部的成像FPGA包括行周期处理模块、时序驱动模块和数据训练及整合模块；为节约成本，将成像控制器和成像单元设置为异步系统，成像控制器提供统一的外部硬行周期信号；多光谱行周期采用相邻四行全色行周期累加而非四倍的形式；采取在电荷转移信号的更新位置设置保护区，同时修改电荷转移信号输出判断条件，可以在任意行周期的大小步距跳变下工作。
基本信息
专利标题 ：
高摄像同步性和精细像移补偿的TDICMOS成像系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113364933A
申请号 ：
CN202110727832.3
公开（公告）日 ：
2021-09-07
申请日 ：
2021-06-29
授权号 ：
CN113364933B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
余达刘金国周怀得徐东梅贵周磊孔德柱
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市东南湖大路3888号
代理机构 ：
长春众邦菁华知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱红玲
优先权 ：
CN202110727832.3
主分类号 ：
H04N5/06
IPC分类号 ：
H04N5/06 H04N5/232
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2021-09-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 5/06
申请日 : 20210629
申请日 : 20210629
2021-09-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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