测振测温装置及其信号处理方法
授权
摘要

本申请公开了一种测振测温装置及其信号处理方法,其中,装置包括:激光测振组件、红外测温组件和信号处理组件,激光测振组件用于针对待测物体发射测量激光,并根据测量激光得到的参考光束和测量光束获得干涉光束,干涉光束转换可以得到两路光电信号;红外测温组件可以将待测物体的红外辐射能量转换为温度电信号;信号处理组件,用于对两路光电信号进行非线性误差矫正,并解调得到待测物体的振动信息,并对温度电信号进行温度信息还原,得到待测物体的表面温度。由此,解决相关技术中通过多个传感器进行接触测温与测振,无法保证测量时间和测量点的一致性,导致测量的准确性较差,且测量的灵活性差,操作复杂,用户体验较差等问题。

基本信息
专利标题 :
测振测温装置及其信号处理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113390467A
申请号 :
CN202110796255.3
公开(公告)日 :
2021-09-14
申请日 :
2021-07-14
授权号 :
CN113390467B
授权日 :
2022-05-03
发明人 :
俞本立罗家童吕韬胡小俭汪辉
申请人 :
安徽至博光电科技股份有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区创新产业园二期G4栋A座4-5层
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄玉霞
优先权 :
CN202110796255.3
主分类号 :
G01D21/02
IPC分类号 :
G01D21/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
G01D21/02
用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量
法律状态
2022-05-03 :
授权
2021-10-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01D 21/02
申请日 : 20210714
2021-09-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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