一种用于参考条带模式InSAR的前斜视测高方法
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摘要
本发明公开了一种用于参考条带模式InSAR的前斜视测高方法，包括：建立三维直角坐标系，读取参考条带模式InSAR双通道回波数据、雷达系统参数及运动参数、地面控制点参数；在三维直角坐标系中的地平面对回波数据进行成像处理；将成像处理得到的两幅SAR图像进行干涉处理，并对干涉相位进行滤波；对干涉相位进行相位解缠绕，并基于地面控制点确定绝对相位；计算各像素点高程；对采样网格点上的数据进行插值重采样，得到几何校正后地面数字高程模型。本发明避免了传统InSAR测高处理方法在处理斜视数据时对主辅图像配准精度要求极高、难以保证干涉相位精度、在斜视模式下需要求解多普勒方程、参考条带模式InSAR的数字高程模型获取的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种用于参考条带模式InSAR的前斜视测高方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113640797A
申请号 ：
CN202110909166.5
公开（公告）日 ：
2021-11-12
申请日 ：
2021-08-09
授权号 ：
CN113640797B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
孙兵姜予名李景文王岩李春升
申请人 ：
北京航空航天大学;北京理工大学
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
北京汇信合知识产权代理有限公司
代理人 ：
王维新
优先权 ：
CN202110909166.5
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2021-11-30 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20210809
申请日 : 20210809
2021-11-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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