测试系统配置适配器系统和方法
实质审查的生效
摘要
本申请提供了测试系统配置适配器系统和方法。在一个实施例中,测试系统配置适配器包括测试器侧插接口、分线引脚和被测器件侧槽。测试器侧插接口被配置为与测试设备插接口耦合。分线引脚被配置为与补充设备耦合。被测器件侧槽被配置为与测试器侧插接口、分线引脚和被测器件耦合。测试系统配置适配器被配置为在被测器件保持耦合到被测器件侧槽的情况下使能耦合到测试设备插接口的测试设备和耦合到分线引脚的补充设备之间的通信。在一个示例性实现方式中,分线引脚和测试器侧插接口选择性地耦合到被测器件侧槽。测试系统配置适配器可以包括开关,该开关被配置为对被测器件侧槽与测试器侧插接口和分线引脚的耦合的一部分进行切换。
基本信息
专利标题 :
测试系统配置适配器系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509615A
申请号 :
CN202110980391.8
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2021-08-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
埃迪·韦恩·周
申请人 :
爱德万测试公司
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
桑敏
优先权 :
CN202110980391.8
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20210825
申请日 : 20210825
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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