存储器装置、存储器系统及存储器系统的操作方法
公开
摘要
公开了存储器装置、存储器系统及存储器系统的操作方法。所述存储器装置包括存储器单元阵列和测试控制器。存储器单元阵列包括多个存储器单元，其中，存储器单元阵列被划分为多个区域。测试控制器被配置为对所述多个存储器单元执行并行位测试(PBT)，其中，测试控制器在PBT期间在从所述多个区域输出的内部数据之中选择包括故障数据位的故障数据，并且经由数据输入/输出信号线将故障数据输出到所述存储器装置的外部。
基本信息
专利标题 ：
存储器装置、存储器系统及存储器系统的操作方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114446346A
申请号 ：
CN202110987842.0
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2021-08-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金大正金南亨金度翰徐德浩申院济崔仁寿
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道水原市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
张川绪
优先权 ：
CN202110987842.0
主分类号 ：
G11C11/4063
IPC分类号 ：
G11C11/4063 G11C11/4078 G11C29/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C11/08
应用多孔存储元件的，例如：应用多孔磁芯存储器；应用把几个单独的多孔存储元件合并起来的板
G11C11/21
应用电元件的
G11C11/34
应用半导体器件的
G11C11/40
应用晶体管的
G11C11/401
形成需要刷新或电荷再生的单元的，即，动态单元的
G11C11/4063
辅助电路，例如，用于寻址、译码、驱动、写、读出或定时的
法律状态
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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