测试输入/输出速度转换及相关设备及方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开测试输入/输出速度转换及相关设备及方法。一种设备包含胶连电路及用于集成电路装置的核心电路系统的BIST电路。所述BIST电路包含测试接口、一或多个输入及一或多个输出。所述BIST电路经配置以依第一速度操作。所述胶连电路经配置以与所述BIST电路的所述测试接口、所述一或多个输入及所述一或多个输出介接。所述胶连电路经配置以在依第二速度操作的第二速度测试接口信号及第二速度输入/输出信号与依所述第一速度操作的第一速度测试接口信号及第一速度输入/输出信号之间转换。所述第二速度不同于所述第一速度。
基本信息
专利标题 ：
测试输入/输出速度转换及相关设备及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518517A
申请号 ：
CN202111060081.0
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2021-09-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
辛尙勳尹元柱R·H·卡利亚
申请人 ：
美光科技公司
申请人地址 ：
美国爱达荷州
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王龙
优先权 ：
CN202111060081.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/3187 G11C29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20210910
申请日 : 20210910
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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