检测装置、检测设备及带检测功能的显示装置
公开
摘要
提供检测装置、检测设备及带检测功能的显示装置，能够提高检测精度。检测装置具有：基板；排列于基板的多个光电二极管；覆盖多个光电二极管的绝缘膜；以及设置于绝缘膜之上的导电层，其中，光电二极管分别包括p型半导体层与i型半导体层直接相接且i型半导体层与n型半导体层直接相接地层叠有这三层的多个第一区域，所述多个第一区域中包括的多个所述i型半导体层分别在俯视观察时分离设置，所述多个第一区域中包括的多个所述n型半导体层分别在俯视观察时分离设置，导电层经由设置于绝缘膜的接触孔与第一区域的各n型半导体层连接。
基本信息
专利标题 ：
检测装置、检测设备及带检测功能的显示装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114300491A
申请号 ：
CN202111162059.7
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胜田忠义尾关芳孝
申请人 ：
株式会社日本显示器
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
马强
优先权 ：
CN202111162059.7
主分类号 ：
H01L27/146
IPC分类号 ：
H01L27/146
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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