一种薄膜天线展开测试装置及其测试方法
授权
摘要

本发明公开了一种薄膜天线展开测试装置及其测试方法,属于展开测试技术领域,一种薄膜天线展开测试装置,包括平台,还包括:第一位移调节器和第二位移调节器,均位于平台上;支撑架,固定连接在第一位移调节器的输出端,所述支撑架上固定连接有可拆卸的卷收筒,伸展臂绕卷在卷收筒内;导轨,位于平台上,所述导轨上滑动连接有滑动块,所述滑动块上设有第三压力传感器;通过对伸展臂施加不同的压紧力,从而判断伸展臂在展开过程中的波动情况,和是否出现伸展臂折弯失稳现象,进而为后续的伸展臂具体参数的优化设计以及其在展开过程中,压紧力的大小,提供依据和参考,确保展开机构稳定的工作。

基本信息
专利标题 :
一种薄膜天线展开测试装置及其测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113820117A
申请号 :
CN202111169253.8
公开(公告)日 :
2021-12-21
申请日 :
2021-10-08
授权号 :
CN113820117B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
李明健刘宇飞李萌黄小琦耿新宇李媛媛
申请人 :
中国空间技术研究院
申请人地址 :
北京市海淀区友谊路104号
代理机构 :
重庆律知诚专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
殷兴旺
优先权 :
CN202111169253.8
主分类号 :
G01M13/00
IPC分类号 :
G01M13/00  G01N3/06  G01N3/08  G01N19/02  H01Q1/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M13/00
机械部件的测试
法律状态
2022-04-08 :
授权
2022-01-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 13/00
申请日 : 20211008
2021-12-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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