共焦拉曼分析设备和方法
公开
摘要
拉曼分析设备包括用于沿光路将物体成像到光学检测器的成像光学系统、用于照射物体的照射光学系统和包括旋转针孔盘的扫描装置。照射光学系统将光引导到扫描装置上以在多个照射点照射物体。成像光学系统将从照射点处的物体发射的拉曼散射光成像到扫描装置所在的中间图像平面。成像光学系统可以包括光谱滤光器和/或至少一个光谱分析器。该设备能够执行高速共焦拉曼成像和/或高速共焦拉曼光谱。
基本信息
专利标题 ：
共焦拉曼分析设备和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384055A
申请号 ：
CN202111171373.1
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-10-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
A·C·丹尼斯
申请人 ：
安多尔科技有限公司
申请人地址 ：
英国北爱尔兰
代理机构 ：
深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
金辉
优先权 ：
CN202111171373.1
主分类号 ：
G01N21/65
IPC分类号 ：
G01N21/65 G01J3/44 G01J3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/65
喇曼散射
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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