检验显示设备的方法
公开
摘要

提供了一种检验显示设备的方法。显示设备包括衬底、在衬底上的发光元件、在发光元件的一端上的第一接触电极、以及与第一接触电极间隔开并且在发光元件的另一端上的第二接触电极。检验显示设备的方法包括分别向第一接触电极和第二接触电极施加第一检验电压和第二检验电压,并测量第一检验电流,以及在分别向第一接触电极和第二接触电极施加第一检验电压和第二检验电压的同时,用检验光照射发光元件并测量第二检验电流。

基本信息
专利标题 :
检验显示设备的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114550626A
申请号 :
CN202111184345.3
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2021-10-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李胜揆洪基表
申请人 :
三星显示有限公司
申请人地址 :
韩国京畿道
代理机构 :
北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王达佐
优先权 :
CN202111184345.3
主分类号 :
G09G3/00
IPC分类号 :
G09G3/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G09
教育;密码术;显示;广告;印鉴
G09G
对用静态方法显示可变信息的指示装置进行控制的装置或电路传输数据的装置在数字计算机与显示器之间入G06F3/14;由若干分离源或光控的光电池结合而成的静态指示装置入G09F9/00;由若干光源的组合而构成的静态的指示装置入H01J,H01K,H01L,H05B33/12;文件或者类似物的扫描、传输或者重现,如传真传输,其零部件入H04N1/00)
G09G3/00
仅考虑与除阴极射线管以外的目视指示器连接的控制装置和电路
法律状态
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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