具有检测样品相对物镜移位的装置的显微镜及其检测方法
公开
摘要
本发明涉及一种用于检测样品(4)相对于物镜(2)的移位的方法。利用物镜(2)将样品(4)成像到图像传感器。利用图像传感器(14)拍摄样品(4)的图像，将样品(4)的光(29)记录在图像传感器(14)的像素上。选择图像传感器(14)的不多于90％的像素的子集。将图像的分别相应于图像传感器(14)的像素的子集的部分与至少一个参考图像的同样相应于图像传感器(14)的像素的子集的部分比较。确定在调设时段期间样品(4)的且记录在图像传感器(14)的各个像素上的光(29)的强度的离散量，分析被记录在图像传感器(14)的各像素上的光(29)的强度在调设时段上的时间变化曲线。将离散量用作在选择图像传感器(14)的像素的子集时的标准。
基本信息
专利标题 ：
具有检测样品相对物镜移位的装置的显微镜及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114363481A
申请号 ：
CN202111197272.1
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-10-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
R·施密特
申请人 ：
阿贝里奥仪器有限责任公司
申请人地址 ：
德国哥廷根
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
蔡芮
优先权 ：
CN202111197272.1
主分类号 ：
H04N5/217
IPC分类号 ：
H04N5/217 H04N5/14 G02B21/36 G06T7/70
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
