针对集成电路电流不失真的磁芯损耗确定方法及装置

授权

摘要

一种针对集成电路电流不失真的磁芯损耗确定方法及装置，可包括：向用于集成电路电源系统的电感元件的磁芯中施加具有周期性变化的电流。在电流的作用下，采集磁芯的磁滞回线的多个特征点，其中磁滞回线表示作用于磁芯的磁场强度和磁芯产生的磁感应强度的变化关系。根据多个特征点，确定用于拟合磁滞回线的S曲线的参数，以获得磁滞回线的方程。根据磁滞回线的方程，并基于磁芯损耗的定义，对所述磁滞回线进行积分，以确定磁芯的平均功率损耗。

基本信息

专利标题：

针对集成电路电流不失真的磁芯损耗确定方法及装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113933598A

申请号：

CN202111212817.1

公开（公告）日：

2022-01-14

申请日：

2021-10-19

授权号：

CN113933598B

授权日：

2022-05-10

发明人：

王芬

申请人：

北京智芯仿真科技有限公司

申请人地址：

北京市海淀区农大南路1号院5号楼306室

代理机构：

北京星通盈泰知识产权代理有限公司

代理人：

李筱

优先权：

CN202111212817.1

主分类号：

G01R27/26

IPC分类号：

G01R27/26