流动纳米颗粒测量设备和使用该设备确定纳米颗粒的方法
实质审查的生效
摘要
本申请公开了流动纳米颗粒测量设备和使用该设备确定纳米颗粒的方法。所述流动纳米颗粒测量设备包括：流动室，液态样本在所述流动室中流动，第一激光束辐照到所述流动室；激光发生器，所述激光发生器被配置成生成所述第一激光束；以及流动控制器，所述流动控制器被配置成控制所述流动室中的所述液态样本的流动。
基本信息
专利标题 ：
流动纳米颗粒测量设备和使用该设备确定纳米颗粒的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114383981A
申请号 ：
CN202111217007.5
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-10-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴受莲金永勋韩盛弼成准僖
申请人 ：
东友精细化工有限公司
申请人地址 ：
韩国全罗北道
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄志华
优先权 ：
CN202111217007.5
主分类号 ：
G01N15/00
IPC分类号 ：
G01N15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 15/00
申请日 : 20211019
申请日 : 20211019
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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