一种膜片质量检测装置及其方法
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摘要

本申请涉及一种膜片质量检测装置,其包括机架、安装在机架上的工作板以及安装在机架上用于测量放置在工作板上的物体厚度的测厚仪,所述测厚仪包括光线发射装置、光线感应装置以及用于处理信息并显示结果的数据处理系统,所述光线发射装置设置在机架一侧且可发射出多个束处于同一平面、不同角度且不同强度不同的光线。本申请在检测膜片质量时,具有能提高膜片质量测量效率和精度的特点,从而提高判断膜片质量是否合格的效率。

基本信息
专利标题 :
一种膜片质量检测装置及其方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113959349A
申请号 :
CN202111244322.7
公开(公告)日 :
2022-01-21
申请日 :
2021-10-25
授权号 :
CN113959349B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
韩韶峰王新亮文辉李海东丁礼军
申请人 :
湖南捷力泰科技有限公司
申请人地址 :
湖南省永州市冷水滩区高科技工业园九嶷大道永州智能装备产业园内4#、5#栋
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
朱鹏程
优先权 :
CN202111244322.7
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-04-19 :
授权
2022-02-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20211025
2022-01-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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