测量耐久性的方法及执行磨损均衡的方法
公开
摘要
一种测量包括多个存储块的非易失性存储器件的耐久性的方法，所述方法包括：周期性地接收用于所述多个存储块当中的第一存储块的读取命令；基于所述读取命令，对所述第一存储块周期性地执行读取操作；基于所述读取操作的结果，周期性地输出与所述第一存储块相关联的至少一个单元计数值；响应于与所述第一存储块相关联的耐久性信息的周期性接收，周期性地存储所述耐久性信息，所述耐久性信息通过累积所述至少一个单元计数值被获得。
基本信息
专利标题 ：
测量耐久性的方法及执行磨损均衡的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114490428A
申请号 ：
CN202111265668.5
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-10-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴玄教崔相炫卢羌镐
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京市立方律师事务所
代理人 ：
李娜
优先权 ：
CN202111265668.5
主分类号 ：
G06F12/02
IPC分类号 ：
G06F12/02 G11C16/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F12/00
安装在筛选装置之上的在存储器系统或体系结构内的存取、寻址或分配
G06F12/02
寻址或地址分配；地址的重新分配
法律状态
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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