利用二分公差带精密测量大半径小圆弧型面直径的方法
实质审查的生效
摘要
本发明属于圆弧直径测量技术领域，涉及一种利用二分公差带精密测量大半径小圆弧型面直径的方法，包括：1)圆弧两个端点构建坐标系的X向轴线；2)判定圆弧半径真值RZ所在公差带区间；3)圆弧半径真值RZ所在公差带区间进行二等分，判定圆弧半径真值RZ所在公差带区间；4)将RZ所在的公差带区间再进行二等分，判定圆弧半径真值RZ所在公差带区间；5)以此类推，将圆弧半径真值RZ所在的公差带区间进行多次二等分得到最终公差带区间，直至极半径差结果在0.0002mm以内，得到圆弧半径真值RZ＝RB±(最终公差带/2)，得到圆弧直径实测值。本发明测量精密度高，误差小，提高测量效率。
基本信息
专利标题 ：
利用二分公差带精密测量大半径小圆弧型面直径的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114353722A
申请号 ：
CN202111277325.0
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-10-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘猛李楠李富强刘曦黑金龙王芝
申请人 ：
中国航发西安动力控制科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市莲湖区大庆路750号
代理机构 ：
西安佩腾特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
姚敏杰
优先权 ：
CN202111277325.0
主分类号 ：
G01B21/10
IPC分类号 ：
G01B21/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/10
用于计量直径
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/10
申请日 : 20211029
申请日 : 20211029
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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