一种基于拓扑半金属异质结的光电探测器及其探测方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于拓扑半金属异质结的光电探测器及其探测方法，本发明的光电探测器是由第II类狄拉克半金属二碲化铂(或二碲化钯)与第II类外尔半金属钽铱碲这两种零带隙材料组成的异质结光电探测器，因此探测光谱范围广，能覆盖可见光到中远红外波段；本发明的光电探测器对红外光非常敏感，暗电流非常小，在无偏压和偏压条件下均能正常工作；本发明的光电探测器对线偏振光方向敏感，可以用于线偏振探测；本发明的光电探测器对圆偏振光旋向敏感，可以用于圆偏振光探测；本发明光电探测器能够在室温下正常工作，无需制冷设备，因此大大降低了运行成本，这些优势将有助于本探测器的大范围应用和商业化推广。
基本信息
专利标题 ：
一种基于拓扑半金属异质结的光电探测器及其探测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114388650A
申请号 ：
CN202111279782.3
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-11-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘晶宋晓明孙栋
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市南开区卫津路92号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111279782.3
主分类号 ：
H01L31/109
IPC分类号 ：
H01L31/109 H01L31/032 H01L21/66 H01L23/544
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 31/109
申请日 : 20211101
申请日 : 20211101
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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