测量设备、控制设备和控制方法
公开
摘要
本发明提供了测量设备、控制设备和控制方法。测量设备(S)包括：传感器(2)，用于测量工件；多轴机器人(1)，用于在三维空间中移动传感器(2)；位置确定部(153)，用于至少基于指示工件(W)的几何形状的设计数据或拍摄图像数据来确定i)作为沿工件(W)上的多个待测量位置中的各个待测量位置处的法线方向的位置的多个测量位置以及ii)传感器(2)在多个测量位置中的各个测量位置处的方向；移动控制部(152)，用于通过控制机器人(1)来将传感器(2)顺次移动到多个测量位置；以及测量控制部(154)，用于与多个待测量位置相关联地输出指示传感器(2)在多个测量位置中的各个测量位置处测量到的结果的测量数据。
基本信息
专利标题 ：
测量设备、控制设备和控制方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114543697A
申请号 ：
CN202111281482.9
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2021-11-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
日高和彦喜入朋宏三岛英树宫崎智之光谷直树白川义德市村努
申请人 ：
株式会社三丰
申请人地址 ：
日本神奈川县
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN202111281482.9
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24 B25J9/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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