一种单晶硅片表面粘附物的全面清洗装置及其使用方法
公开
摘要

本发明公开了一种单晶硅片表面粘附物的全面清洗装置及其使用方法,涉及单晶硅片技术领域。本发明包括清洗箱和硅片本体,清洗箱的顶部安装有用于清洗硅片本体的清洗机构,清洗箱的内部安装有用于清洁硅片本体表面的清洁机构,清洗箱的内部还安装有固定箱。本发明通过清洁机构,清扫盘的旋转和运动的轨迹,能够更好的对硅片本体表面进行清扫,减少后续清洗的工作量,通过夹持机构,能够更好的对硅片本体进行夹持,且通过旋转机构,使得本装置能够对硅片本体的两个面进行清扫,减少人工翻面的工作量,通过去除静电机构,能够减少硅片本体表面的静电,减少硅片本体对附着物的吸附力。

基本信息
专利标题 :
一种单晶硅片表面粘附物的全面清洗装置及其使用方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114522918A
申请号 :
CN202111330797.8
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2021-11-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨阳杨振华季富华管家辉
申请人 :
无锡上机数控股份有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市滨湖区雪浪街道南湖中路158号
代理机构 :
北京睿博行远知识产权代理有限公司
代理人 :
张燕平
优先权 :
CN202111330797.8
主分类号 :
B08B1/04
IPC分类号 :
B08B1/04  B08B1/00  B08B3/02  B08B13/00  H05F3/00  H01L21/67  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B08
清洁
B08B
一般清洁;一般污垢的防除
B08B1/00
利用工具,刷子或类似工具的清洁方法
B08B1/04
利用旋转动作的构件
法律状态
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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