校验缓存一致性的方法、装置和存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种校验缓存一致性的方法、装置和存储介质。其中,所述处理器包括由多个内核运行的多个线程,所述方法包括:读取缓存一致性的测试用例,所述测试用例包括施加到所述多个内核运行的多个线程的多个缓存操作;根据所述测试用例的描述生成所述多个缓存操作的执行示意图;接收在所述多个缓存操作中选择一目标缓存操作的选择指令;以及响应于所述选择指令,生成所述目标缓存操作的操作信息。

基本信息
专利标题 :
校验缓存一致性的方法、装置和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114328062A
申请号 :
CN202111372204.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-11-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
高世超吴惠平何文灏葛亮管俊杰
申请人 :
芯华章科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市江北新区华创路共享空间01栋18层
代理机构 :
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 :
李莎
优先权 :
CN202111372204.4
主分类号 :
G06F11/26
IPC分类号 :
G06F11/26  G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/26
申请日 : 20211118
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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