一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法,用于响应测试设备上冷头部件的更换提示,对冷头的备件更换和部件维修作出信息化管理,每个冷头部件预设有唯一身份标识信息,管理系统包括终端设备和服务器数据库,终端设备包括拍照装置、PC、PC端的库存管理‑视觉检测软件;终端设备部署于不同站点,用于每一站点的库存记录更新和外观检查,其中库存数据库存放每个备件的编号、出/入库状态、检查状态信息。本发明把库存管理和外观检测结合进行,执行效率更高;自动读取备件编号,自动调取检测参数,可实现不同种类备件的视觉检测,且相比人工检测可靠性更高。

基本信息
专利标题 :
一种IC芯片测试设备的冷头备件管理系统及管理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264848A
申请号 :
CN202111420902.7
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-11-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
许悦郭宏伟朱军曾昭孔
申请人 :
苏州通富超威半导体有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区苏桐路88号
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
吴芳
优先权 :
CN202111420902.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20211126
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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