接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统及测试方法
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摘要
本发明公开了一种精密接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统及测试方法，包括接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪，所述绝缘电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向连接，所述导通电阻测试仪与所述控制装置之间通过串口进行双向数据交互，第一电源模块的电源输出端与所述接插件测试控制装置、绝缘电阻测试仪以及导通电阻测试仪的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。所述系统和方法能够快速的完成被测接插件的绝缘电阻和导通电阻测试，效率高，不易出错，且被测接插件损坏的概率低。
基本信息
专利标题 ：
接插件绝缘电阻和导通电阻测试系统及测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114113791A
申请号 ：
CN202111447253.X
公开（公告）日 ：
2022-03-01
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
CN114113791B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
孙日东纪玲燕
申请人 ：
北京邦卓尔微电子有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区昌盛路12号院210室
代理机构 ：
河北冀华知识产权代理有限公司
代理人 ：
王占华
优先权 ：
CN202111447253.X
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2022-03-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/02
申请日 : 20211130
申请日 : 20211130
2022-03-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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