一种触碰式柔顺小天体采样系统及采样方法
授权
摘要
本发明涉及空间探测技术领域,特别涉及一种触碰式柔顺小天体采样系统及采样方法。包括星体平台及设置于星体平台上的主控制器、样品存储系统、监视系统、柔顺机械臂及工具库;样品存储系统用于样品的储存和密封;监视系统用于获取卫星与小天体之间的相对距离信息、倾角信息、小天体地形条件和星壤颗粒状态及监视采样过程,并将获取信息发送给主控制器;自适应关节用于安装工具头;采样工具库用于安装工具头;主控制器用于接收监视系统发送信息,并根据接收的信息控制柔顺机械臂拾取对应的采样工具,进行采样。本发明能够解决采样过程控制、复杂地形适应性、样品密封返回等难题,达到小天体自主、安全、高效样品采集和密封返回的目的。
基本信息
专利标题 :
一种触碰式柔顺小天体采样系统及采样方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113884334A
申请号 :
CN202111457575.2
公开(公告)日 :
2022-01-04
申请日 :
2021-12-02
授权号 :
CN113884334B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
李俊麟张威周维佳张伟李振新黄昊
申请人 :
沈阳中科新宇空间智能装备有限公司;中国科学院沈阳自动化研究所
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区文萃路69号311室
代理机构 :
沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人 :
何丽英
优先权 :
CN202111457575.2
主分类号 :
G01N1/08
IPC分类号 :
G01N1/08 B25J9/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/04
固体的,如采用切割
G01N1/08
用提取工具,如岩心钻头
法律状态
2022-04-12 :
授权
2022-01-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 1/08
申请日 : 20211202
申请日 : 20211202
2022-01-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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