一种基板切割方法及系统
公开
摘要
本发明提供一种基板切割方法及系统,基板切割方法包括:步骤S1,对待切割基板进行图像采集,得到一第一图像,获取一校准点在第一图像上的第一图像坐标;步骤S2,对基板图纸图像进行特征提取得到预设切割路径,分别获取多个特征点的第二图像坐标和基准点的第三图像坐标,并将各第二图像坐标加入一理论坐标集合;步骤S3,根据第一图像坐标和第三图像坐标处理得到一第一校准量,并根据第一校准量对理论坐标集合中的各第二图像坐标进行校准得到一校准坐标集合;步骤S4,根据校准坐标集合处理得到一实际切割路径;一切割装置根据一执行指令及实际切割路径对待切割基板进行切割。有益效果是提高对待切割基板的切割效率及对切割后基板的品质识别效率。
基本信息
专利标题 :
一种基板切割方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114488595A
申请号 :
CN202111464655.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
程进严嵘
申请人 :
上海索广映像有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区川沙路3777号
代理机构 :
上海申新律师事务所
代理人 :
吴轶淳
优先权 :
CN202111464655.0
主分类号 :
G02F1/1333
IPC分类号 :
G02F1/1333 G02F1/13 G06V10/44 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
G02F1/133
构造上的设备;液晶单元的工作;电路装置
G02F1/1333
构造上的设备
法律状态
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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