一种变比测试装置、变比测试方法、装置及介质
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种变比测试装置，涉及变压器领域，通过CPU先控制输出一个预设电压值，该预定电压值在待测变压器的高压侧与低压侧接反时也不会造成低压检测端烧坏，当判断接线正确时，可通过升高输出电压来测试变比值，若判断接线错误，则可停止测量，避免了因为被测对象接反导致测量通管道烧坏。另外，本申请还提供一种变比测试方法，应用于上述变比测试装置，本申请还提供一种变比检测装置及介质，与上述方法对应，效果同上。
基本信息
专利标题 ：
一种变比测试装置、变比测试方法、装置及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114280387A
申请号 ：
CN202111469970.2
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-12-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谭海云周雷沈潇晔侯伟宏汤明史宇超邱治淳孙琳沈正阳陈嘉敏马涛王海荣王建强徐航杨中彪陈致远徐建文
申请人 ：
国网浙江省电力有限公司双创中心
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区江晖路701号B幢
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
李笑笑
优先权 ：
CN202111469970.2
主分类号 ：
G01R29/20
IPC分类号 ：
G01R29/20 G01R31/55
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/20
匝数的测量；绕组的变换比或耦合因数的测量
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/20
申请日 : 20211203
申请日 : 20211203
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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