电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质
授权
摘要
本申请涉及一种电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质。包括：确定标准电子元器件的特性参数和第一工况条件；获取预设温度下的标准电子元器件的第一试验寿命；确定标准电子元器件的加速倍数；获取待预测电子元器件的第二工况条件，根据标准电子元器件的加速倍数、第二工况条件、待预测电子元器件的特性参数，确定使待预测电子元器件的加速倍数与标准电子元器件的加速倍数相等时的试验温度；根据第一工况条件和第二工况条件，确定工况差异倍数；根据第一试验寿命和工况差异倍数，确定待预测电子元器件在试验温度下的第二试验寿命。从而能够预测其他工况的电子元器件的寿命，缩短了试验时间，节省了试验成本。
基本信息
专利标题 ：
电子元器件寿命预测方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113901675A
申请号 ：
CN202111495488.6
公开（公告）日 ：
2022-01-07
申请日 ：
2021-12-09
授权号 ：
CN113901675B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
刘树强何亮余思达蔡金宝
申请人 ：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址 ：
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 ：
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
左帮胜
优先权 ：
CN202111495488.6
主分类号 ：
G06F30/20
IPC分类号 ：
G06F30/20 G06F119/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2022-01-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20211209
申请日 : 20211209
2022-01-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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