一种测试头掉电前信息收集设备及其收集方法

实质审查的生效

摘要

一种测试头掉电前信息收集装置及其收集方法，位于不同槽位的N块单板，每块单板包括供电电源、掉电检测模块、中断模块、CPU、测试模块和存储模块；所有测试模块接DUT；当检测时，每个掉电检测模块接收并检测各自的供电电源电压是否低于第一电压阈值，如果是，发送断电指示信号给N块单板的中断模块和CPU；每块单板的中CPU通知测试模块中断测试，在供电电源的电压信号低于第二电压阈值前保存当前测试进度和测试结果，并在存储当前测试进度和测试结果；如果不是，每个CPU控制相应的测试模块对DUT进行测试，并将测试结果发送回相应的测试模块，并通过存储模块存储；其中，第一电压阈值大于第二电压阈值。

基本信息

专利标题：

一种测试头掉电前信息收集设备及其收集方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114487744A

申请号：

CN202111515522.1

公开（公告）日：

2022-05-13

申请日：

2021-12-13

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

徐波波

申请人：

上海御渡半导体科技有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区泥城镇新元南路600号1幢1夹层

代理机构：

上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

徐琳

优先权：

CN202111515522.1

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2022-05-31 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20211213

2022-05-13 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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