玉米横截面参数测量方法、系统、电子设备及可存储介质
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摘要

本发明涉及图像处理技术领域,公开了一种玉米横截面参数测量方法、系统、电子设备及可存储介质,包括:计算玉米横截面图像的圆心和半径,在B通道图中将单个横截面等分成多个同心圆环,从外向内逐个遍历圆环,当某圆环内的灰度值均值大于此横截面的灰度值均值时,此圆环中间圆即为得到的轴线,在G减B通道结果图中,根据上述方式,当某圆环内的灰度值均值小于此横截面的灰度值均值时,此圆环中间圆即为得到的胚栽入线,根据轴线和胚栽入线得到得到胚尖位置线,在二值图中利用玉米横截面一周籽粒的凹凸特性,分析得出籽粒的个数和位置。本发明将图像处理技术应用于玉米横截面测量,取代人工测量统计分析数据,节省了人力成本,提高了工作效率。

基本信息
专利标题 :
玉米横截面参数测量方法、系统、电子设备及可存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113935991A
申请号 :
CN202111517112.0
公开(公告)日 :
2022-01-14
申请日 :
2021-12-13
授权号 :
CN113935991B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
朱旭华陈渝阳赵飞朱黎明张盛军
申请人 :
浙江托普云农科技股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市拱墅区祥园路88号3幢1101室
代理机构 :
杭州五洲普华专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
徐晶晶
优先权 :
CN202111517112.0
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T7/12  G06T7/13  G06T7/62  G06T5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 :
授权
2022-02-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211213
2022-01-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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