本申请提供一种电磁继电器低温测试装置及方法，所述装置包括：温控箱，所述温控箱的箱体表面开设有安装孔，所述电磁继电器的壳体位于所述箱体内部，所述壳体的侧壁与所述安装孔的侧边可拆卸连接，所述电磁继电器的引脚位于所述箱体外部；所述箱体内设有温度调节装置，所述温度调节装置用于改变所述箱体内的气体温度；加热电阻丝，缠绕在所述引脚中部，被配置为改变与所述引脚连接的所述触点的温度。本申请提供的电磁继电器低温测试装置及方法，结构简单，操作简便，通用性强，降低了外接引线带来的串联电阻，减少了测量误差，方便对电磁继电器的不同引脚进行测试，实现对故障的复现与定位分析。