一种基于A3幅面扫描仪的分区域扫描大幅面振镜校正系统
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种基于A3幅面扫描仪的分区域扫描大幅面振镜校正系统,包括通过根据要校正的幅面大小标刻圆阵列文件,设计出17行17列的标刻圆阵列文件,使用要校正的振镜在第一个校正标靶A和校正标靶B上标记标记点;通过二维扫描仪扫描最大的宽度,校正标靶A和校正标靶B是同一个振镜激光加工设备,通过图像识别算法,分别获取标靶A和标靶B的各个点实际坐标;最后通过17X17的实际坐标生成振镜的校正文件完成校正,通过实现了300mm及以上幅面的振镜激光加工设备的快速多点校正,不需要像以前那样人工测量多个点坐标,避免了人工测量的误差和时间浪费,并且全程的数据可以通过服务器进行备份和记录。

基本信息
专利标题 :
一种基于A3幅面扫描仪的分区域扫描大幅面振镜校正系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114260560A
申请号 :
CN202111543604.7
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杜晓帅王文娟
申请人 :
北京金橙子科技股份有限公司
申请人地址 :
北京市丰台区丰台路口139号319室
代理机构 :
北京市盈科律师事务所
代理人 :
刘立国
优先权 :
CN202111543604.7
主分类号 :
B23K26/064
IPC分类号 :
B23K26/064  B23K26/082  B23K26/70  H04L67/1095  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B23
机床;其他类目中不包括的金属加工
B23K
钎焊或脱焊;焊接;用钎焊或焊接方法包覆或镀敷;局部加热切割,如火焰切割;用激光束加工
B23K26/00
用激光束加工,例如焊接、切割、或打孔
B23K26/02
工件的定位和观测,如相对于冲击点;激光束的对正、瞄准或聚焦
B23K26/06
激光束的成形,例如,利用掩膜或多次聚焦
B23K26/064
通过光学元件装置的,例如透镜,反射镜,棱镜
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B23K 26/064
申请日 : 20211216
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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