一种基坑监测用深度测量装置及其测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基坑监测用深度测量装置,包括固定板,所述固定板上安装有监测主机,所述固定板上倾斜安装有固定筒,所述固定筒的上端滑动插设有调节杆,所述调节杆远离固定筒的一端固定嵌设有测量仪;本发明还公开了一种采用上述测量装置测量基坑深度的测量方法,包括以下步骤:装配伸缩对位;控制扫描测量;测量数据计算;输出测量结果。通过将测量仪置于基坑上方进行全局监测,并通过测量仪的横向扫面测量以及纵向转动间歇测量实现基坑底部二维平面深度测量,并通过监测主机对测量数据进行整合计算,输出更加直观的等高线地形图,测量范围更广、精准度更高且更加方便。

基本信息
专利标题 :
一种基坑监测用深度测量装置及其测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485456A
申请号 :
CN202111546797.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
卜庆斌
申请人 :
卜庆斌
申请人地址 :
贵州省遵义市播州区龙泉大道万豪世贸城11栋
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111546797.1
主分类号 :
G01B11/22
IPC分类号 :
G01B11/22  E02D17/02  E02D33/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/22
用于计量深度
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/22
申请日 : 20211217
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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