一种放样方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种放样方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:获取目标放样位置和实时动态测量RTK主机的地图矢量数据,以及RTK主机上的摄像头拍摄的主机图像;根据地图矢量数据、主机图像和目标放样位置生成增强现实AR图像;在电子手簿上显示AR图像,电子手簿与RTK主机相互通信。通过根据实时动态测量RTK主机的地图矢量数据、该RTK主机上的摄像头拍摄的主机图像和目标放样位置生成增强现实AR图像,并在电子手簿上显示AR图像,以使测绘工程的作业人员可以根据AR图像上直观显示的距离来移动RTK主机以及定位标识物,直至AR图像上的目标放样位置与定位标识物重合时放样成功,有效地提高了放样操作效率。

基本信息
专利标题 :
一种放样方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114279419A
申请号 :
CN202111552120.9
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘合丽韩鹏飞杨荣仕汪俊陆春意
申请人 :
上海华测导航技术股份有限公司
申请人地址 :
上海市青浦区徐泾镇高泾路599号C座
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
杨奇松
优先权 :
CN202111552120.9
主分类号 :
G01C15/00
IPC分类号 :
G01C15/00  G01S19/43  H04N13/243  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C15/00
不包括在G01C1/00至G01C13/00各组的测量器械或部件
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 15/00
申请日 : 20211217
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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