一种测试向量的编码方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种测试向量的编码方法,涉及测试技术领域,该方法将测试文件划分为若干个子文件,对于每个包含P行测试向量的子文件,对子文件中的P行测试向量的激励码进行列编码得到M个激励数据帧、对P行测试向量的功能码进行行编码得到P个功能数据帧,得到子文件的编码结果,其中,每个激励数据帧对应一个测试通道、且包含子文件中的全部P行测试向量中对应于测试通道的激励码的编码结果,每个功能数据帧包含对应的一行测试向量中的功能码的编码结果;该方法可以很好的提升测试向量存储深度,尤其在实际使用的测试通道较少的情况下,可以极大的提升压缩效率,可以在测试机有限的存储空间内存储更多的测试向量文件。

基本信息
专利标题 :
一种测试向量的编码方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325311A
申请号 :
CN202111553469.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
梁超广谢达吴镇王征吴明川丁正楠
申请人 :
无锡中微亿芯有限公司;中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请人地址 :
江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号B1幢2层
代理机构 :
无锡华源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
过顾佳
优先权 :
CN202111553469.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211217
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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