一种基于单片机的自动测量纠偏装置
公开
摘要
本发明涉及测量的技术领域，且公开了一种基于单片机的自动测量纠偏装置，包括外壳，所述外壳的内部活动连接有精确测量机构，精确测量机构包括用于测量位置调整的移动组件、用于位置信号检测的感知组件，移动组件活动连接在外壳的内部，感知组件活动连接在外壳的内侧；通过往复块滑动使得连接杆转动带动滑块移动，进而实现测量过程的自动调整，从而使得测量作业更加的便捷和保证测量的精度，指针运动使得碰撞块运动触发触点，进而实现通过简单的结构完成测量端的准确触发，避免了人工操作误差和声光测量容易受到环境影响的问题，提高测量装置的实用性和可靠性，提高测量作业的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种基于单片机的自动测量纠偏装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295089A
申请号 ：
CN202111557886.6
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
唐丰饶廖锡略陈家勋李煌娴
申请人 ：
深圳宇凡微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区园岭街道鹏盛社区八卦二路八卦岭工业区615栋501
代理机构 ：
广州海藻专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张大保
优先权 ：
CN202111557886.6
主分类号 ：
G01B21/02
IPC分类号 ：
G01B21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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