一种基于有效发射率的复杂环境下涡轮叶片辐射测温方法和装置
公开
摘要
本发明公开了一种基于有效发射率的复杂环境下涡轮叶片辐射测温方法和装置，属于涡轮叶片辐射测温技术领域，解决现有技术计算量过大、误判率较高和不能满足涡轮叶片测温要求的实时性和高效性的问题。本发明的方法包括：获取多个波长下的待测涡轮叶片的辐射数据；构建涡轮叶片反射辐射分析模型，获得周围复杂环境投射到叶片待测点的辐射量；设定发射率模型结合高温计实际接收辐射数据和复杂环境投射到待测点的辐射量构造优化目标方程；利用双种群社会群体优化算法求解优化目标方程获得涡轮叶片在各波长下的发射率数值；求解待测涡轮叶片表面的有效发射率，并计算涡轮叶片表面真实温度。本发明适用于涡轮叶片辐射测温。
基本信息
专利标题 ：
一种基于有效发射率的复杂环境下涡轮叶片辐射测温方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295214A
申请号 ：
CN202111560825.5
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高山张先岐陈立伟王桐崔颖王超姜晶牛夷
申请人 ：
哈尔滨工程大学
申请人地址 ：
黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号
代理机构 ：
哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司
代理人 ：
张宏威
优先权 ：
CN202111560825.5
主分类号 ：
G01J5/00
IPC分类号 ：
G01J5/00 G06F30/17 G06F30/27 G06N3/00 G06F119/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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