芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用，涉及芯片开发技术领域。所述方法包括步骤：获取待验证的波形生成语言WGL文件，通过脚本将其转成仿真testbench文件和可综合testbench文件；通过仿真testbench文件向可综合testbench文件发送启动命令，可综合testbench文件接收到启动命令后启动运行，向待测芯片发送IO激励，并获取待测芯片的响应输出信息；将前述响应输出信息与预设的标准输出数据进行比对以验证前述WGL文件的正确性。本发明能够确保提供给ATE测试端的WGL文件的正确性，降低了ATE测试的误判率，进而可以缩短芯片的整个开发周期。
基本信息
专利标题 ：
芯片ATE测试中的WGL文件处理方法及应用
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114266210A
申请号 ：
CN202111564962.6
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
高胜赵毅辰胡扬央
申请人 ：
眸芯科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区祥科路298号1幢8层
代理机构 ：
上海图灵知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
谢微
优先权 ：
CN202111564962.6
主分类号 ：
G06F30/327
IPC分类号 ：
G06F30/327 G06F30/3308
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/327
逻辑综合；行为综合，例如映射逻辑，HDL到网表，高级语言到RTL或网表
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/327
申请日 : 20211220
申请日 : 20211220
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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