本发明提供了一种基于干扰对消的空间取样天线的设计方法及装置，属于抗干扰取样天线技术领域，设计方法包括：基于取样天线表面电流分布的解析解，通过计算取样天线自阻抗以及主天线与取样天线的互阻抗，获取主天线与取样天线间的耦合度；同时解析格式方向图，通过空间取样方法计算干扰抑制比；结合阵列天线设计的约束条件，筛选出最优取样天线数量；取样天线表面电流分布的解析解获取方法为：采用取样天线上的初始电流分布，修正电流分量产生的动态场分布；引入沿天线位置变化的分布参数均值表示修正后的动态场分布，获取单线有耗传输线模型方程，进而得到取样天线表面电流分布的解析解。本发明可用于各种线天线类抗干扰取样天线的优化设计。