本申请公开了一种固态硬盘及坏块筛选方法、计算机可读存储介质，该固态硬盘应用于宽温环境，包括存储单元和控制器；其中，宽温包括‑40～85℃；存储单元包括存储块，且存储块在宽温环境中的读写错误比特翻转数超过阈值后被测定为坏块。本申请中，需要根据固态硬盘的在宽温环境来基于读写错误比特翻转数对目标固态硬盘的存储块进行坏块筛选，使得最终筛选出的坏块可以反映固态硬盘在宽温环境下可能出现的存储问题，可以提高固态硬盘的坏块筛选准确率。本申请提供的一种固态硬盘坏块筛选方法及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。