一种磁场校准方法及相关组件
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种磁场校准方法及相关组件,获取磁传感器测量的三轴数据后对三轴数据拟合得到三轴数据的正弦函数表达式,然后将三轴数据中与三轴数据的正弦函数表达式的偏差值超过第一预设阈值的数据删除,以排除干扰数据,随后将剩余的三轴数据进行椭球拟合校准,最后使得分布在空间椭球面上的磁场数据校准到空间圆球面上,可见本方法可以将磁传感器的测量数据进行校准的同时排除干扰数据,抗干扰能力较强,不需要构建训练神经网络,效率较高且不需要增加额外的传感器,降低了成本。

基本信息
专利标题 :
一种磁场校准方法及相关组件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325536A
申请号 :
CN202111584057.7
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
韦佩兰王春李圆怡杨黎陈容睿曹幸静
申请人 :
重庆金山医疗技术研究院有限公司
申请人地址 :
重庆市渝北区回兴街道翠屏二巷18号5幢1-1、2-1、3-1
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
李泽艳
优先权 :
CN202111584057.7
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20211222
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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