本申请涉及一种芯片老化补偿方法、装置、SOC芯片及电子设备，属于集成电路技术领域。该方法包括利用电压测量模块测量预设基准电压所对应的当前时刻的测量值；基于当前时刻的测量值和预设第一规则，得到电压测量模块的老化程度；基于电压测量模块的老化程度和预设的表征电压测量模块与芯片内部关键路径的老化相关性的映射关系，得到关键路径的老化程度；基于关键路径的老化程度和预设第二规则，得到关键路径的老化程度对应的老化补偿值；根据老化补偿值调节芯片的电源电压或工作频率以进行老化补偿。本申请能够根据需要随时进行老化检测衡量、并对芯片的电源电压或工作频率进行补偿，以保证最优的能效比。