一种基于共聚焦的多线激光扫描拼缝测量装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明属于焊接自动控制技术领域,并具体公开了一种基于共聚焦的多线激光扫描拼缝测量装置及方法,其包括激光发生组件、分光镜、扫描组件和检测组件,激光发生组件同时发生N路激光束,N路激光束被分光镜反射到扫描组件处;扫描组件包括振镜,N路激光束分别经振镜扫描后会聚到待焊工件上,激光经待焊工件反射按原路回到分光镜,且激光在扫描组件处偏振方向发生改变,返回分光镜后进入检测组件;在检测组件中,N路激光束经滤光片后,由第二物镜聚焦到N个小孔处,经过小孔的光信号被光电倍增管接收,进而得到拼缝图像。本发明将激光扫描成像与共聚焦检测相结合,使得照明区域外的杂光均被共聚焦小孔消除掉,提高拼缝位置检测稳定性和准确性。

基本信息
专利标题 :
一种基于共聚焦的多线激光扫描拼缝测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264617A
申请号 :
CN202111598932.7
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邵文军黄禹徐加俊
申请人 :
华中科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 :
华中科技大学专利中心
代理人 :
孔娜
优先权 :
CN202111598932.7
主分类号 :
G01N21/21
IPC分类号 :
G01N21/21  G01N21/59  G01N21/01  B23K37/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/21
申请日 : 20211224
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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