一种双能滤过器和双能CT
公开
摘要

本发明公开了一种双能滤过器和双能CT,包括第一射线过滤层和第二射线过滤层,第一射线过滤层和第二射线过滤层用于将放射源发出的宽谱射线输出为两种不同平均能量的射线供探测器接收,且两种不同平均能量的射线照射于探测器的接收面的不同区域。通过在放射源与探测器之间设置两种射线过滤层,放射源发出的宽谱射线穿过第一射线过滤层和第二射线过滤层后形成两种不同的平均能量的射线,两种平均能量不同的射线到达探测器的不同区域,探测器在不同位置接收两种射线,探测器同时实现了双能探测。基于以上方案,在不对现有CT技术方案进行明显改造的情况下,实现了对两种不同平均能量的X射线的扫描采集。

基本信息
专利标题 :
一种双能滤过器和双能CT
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295652A
申请号 :
CN202111602588.4
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
潘晓明邢峣
申请人 :
武汉联影生命科学仪器有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉新能源研究院大楼G2-103室(自贸区武汉片区)
代理机构 :
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李平丽
优先权 :
CN202111602588.4
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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