一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法，包括：在金属基底上制备固态电解质薄膜，在金属基底上留出空白空间作为测试电极，在固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极；或在非金属基底上制备底层金属薄膜，在底层金属薄膜上制备固态电解质薄膜，底层金属薄膜留出空白空间作为测试电极，于固态电解质薄膜上制备顶层金属薄膜作为测试对电极。利用电化学工作站分别以电解质薄膜的上下层金属作为电极与对电极，采用交流阻抗A.C Impedance的测试方法，得到Z’阻抗实部与‑Z’’阻抗虚部的曲线，通过计算得到电解质薄膜的离子电导率。本发明具有测试方法简单、测试效率高即精度高的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种固态电解质薄膜离子电导率的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384325A
申请号 ：
CN202111609916.3
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-12-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汤永康沈洪雪甘治平李刚
申请人 ：
中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司
申请人地址 ：
安徽省蚌埠市禹会区涂山路1047号
代理机构 ：
安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨晋弘
优先权 ：
CN202111609916.3
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/02
申请日 : 20211227
申请日 : 20211227
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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