热辐射检测设备和系统以及包括这种设备或系统的电子设备
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种热辐射检测设备(1)，所述设备包括传感器阵列(2)，所述传感器阵列(2)包括多个传感器元件(3)和具有辐射输入端(5)和辐射输出端(6)的光波导(4)。所述辐射输入端(5)用于接收热辐射，所述辐射输出端(6)与所述传感器阵列(2)可操作地连接。所述光波导(4)用于将接收到的所述热辐射作为多个同时热辐射信号进行传输。通过将所述传感器阵列与所述辐射输入端解耦，较大的传感器阵列可以独立于辐射输入位置，置于电子功能的最佳位置和机械约束的最佳位置。
基本信息
专利标题 ：
热辐射检测设备和系统以及包括这种设备或系统的电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114441046A
申请号 ：
CN202111615144.4
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2020-04-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
托尔斯滕·维皮耶夫斯基赵兆
申请人 ：
华为技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111615144.4
主分类号 ：
G01J5/20
IPC分类号 ：
G01J5/20 G01J5/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/20
用对辐射敏感的电阻器，热敏电阻器或半导体
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/20
申请日 : 20200416
申请日 : 20200416
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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